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高低溫冷熱沖擊試驗設(shè)備TSD-50F-2P

高低溫冷熱沖擊試驗設(shè)備TSD-50F-2P

簡要描述:高低溫冷熱沖擊試驗設(shè)備TSD-50F-2P
用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等,同時可通過此試驗,進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

產(chǎn)品型號: TSD-80F-2P

所屬分類:二箱式冷熱沖擊試驗箱

更新時間:2024-06-27

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹

高低溫冷熱沖擊試驗設(shè)備TSD-50F-2P箱體結(jié)構(gòu):

外壁材料由高質(zhì)量1.5mm厚冷軋鋼板靜電雙面噴塑,外部表面具有強(qiáng)抗腐蝕能力

  內(nèi)部材料:SUS304不銹鋼板,厚度為1.2mm  保溫材料:優(yōu)質(zhì)超細(xì)玻璃纖維保溫棉,厚度為150mm

  箱門:全開單翼型,帶有雙層硅橡膠密封和門鎖。觀察窗:箱體帶多層玻璃觀測窗,雙面電加熱 355*355mm

  電路控制板: 在箱體后面的框架內(nèi)

  循環(huán)系統(tǒng):箱內(nèi)風(fēng)道采用雙循環(huán)系統(tǒng),長軸軸流風(fēng)機(jī),不銹鋼多翼式離心風(fēng)輪及循環(huán)風(fēng)道組成;提高了空氣流量,加熱和冷卻的能力,大幅改善了試驗箱的溫度均勻性。

高低溫冷熱沖擊試驗設(shè)備TSD-50F-2P

型號及規(guī)格:

1、型號: TSD-50F-2P

2、工作室尺寸(mm):    400×350×350

3、高溫室溫度范圍:    +60~+150℃

4、低溫室溫度范圍:         -40~0℃

5、轉(zhuǎn)換時間:               ≤15s

6、恢復(fù)時間:               ≤5min

7、預(yù)冷溫度范圍:           ≤-70℃

8、溫度波動度:             ±0.5℃

9、溫度均勻度:             ≤2℃

10、高溫室溫度:          200℃~300℃

11、高溫室升溫時間        +25℃~+150℃≤30min

12、低溫室降溫時間        +25℃~-70℃≤35min

備注:  性能指標(biāo)在環(huán)境溫度15~25℃ 空載時測得

設(shè)備特點

提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移,采用氣動控制,轉(zhuǎn)換時間短,溫度恢復(fù)時間短,溫變速度快,設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,采用兩箱法,提高了工作室的溫度均勻性,但試件一直處于動態(tài),工作室不能留有測試孔,因此不能帶電、帶信號、帶氣源測試

新一代外觀設(shè)計,箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn),技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定,運行更可靠,維護(hù)更方便,備有高檔萬向滾輪,方便在實驗室內(nèi)移動。

超大觸摸屏操作,外觀更加簡潔大方,操作更加容易,設(shè)定值實際值實時顯示。

真空雙層玻璃:大視窗設(shè)計,飛利浦高亮度照明,加熱無霧氣

為編程和文檔處理提供更多的接口選項,記錄量大:SD卡儲存,USB輸出,電腦連接打印,大倉有紙無紙記錄等選配

可靠性高:主要配件選配著名專業(yè)廠商,保證提高整機(jī)可靠性





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